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美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀由于它使用簡單,重量輕,電池供電等特點,使低成本的實時納米粒徑測量成為可能。
美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀 產(chǎn)品簡介
TSI 3910型NanoScan SMPS打開納米顆粒粒徑常規(guī)測量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI公司的SMPS?粒徑譜儀集成在約一個籃球大小的便攜箱內(nèi)。容易使用,重量輕,電池供電等優(yōu)點使NanoScan SMPS讓研究人員多點采集納米顆粒粒徑分布數(shù)據(jù)成為可能。由TSI核心技術(shù)中衍生而來,NanoScan SMPS是一個創(chuàng)新的,低成本的實時納米粒徑測量的有效解決方案。
美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀 產(chǎn)品參數(shù)
測量模式:掃描 一 粒度分布
單顆粒 一 單一粒徑顆粒濃度監(jiān)測
粒徑范圍 :10至420納米
粒徑通道 :13
測量時間 :60秒(45秒上掃.1 5秒回掃),
粒度分布:1秒,單一粒徑技術(shù)模式
粒子濃度: <1,000,000個/cm3
流量: 0.8±5%,進口:0.25±5%.樣品
冷凝液 : 分析純(99.5%或更高):異丙醇
注液系統(tǒng) :溶液機芯(≤6小時運作):可選外置瓶
零點計數(shù) : ≤0.01個,
數(shù)據(jù)存儲選項:3—8天,內(nèi)置存儲器,可選USB存儲驅(qū)動器
顯示: 彩色觸摸屏
通信: USB
預(yù)熱時間:<15分鐘
真空源:內(nèi)置
尺寸(長寬高):45厘米×23厘米x 39厘米
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